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Científicos de talla mundial llegan a Santander para participar en la Primera Escuela Iberoamericana de Espectroscopía XPS

La Universidad Industrial de Santander (UIS) reunirá a figuras clave de la espectroscopía de rayos X en la Primera Escuela Iberoamericana de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), un evento académico sin precedentes en Colombia que se desarrollará del 11 al 15 de agosto en el Parque Tecnológico Guatiguará.

Desde España, México y Alemania, llegarán destacados expertos internacionales para compartir sus conocimientos con la comunidad científica y académica de Iberoamérica, en una iniciativa liderada por el Laboratorio Central de Ciencia de Superficies (SurfLab) y la Vicerrectoría de Investigación y Extensión de la UIS.

Entre los invitados se encuentran:

Dra. Patricia Concepción Heydorn (España), científica titular del Instituto de Tecnología Química (ITQ-CSIC), reconocida como una de las mayores expertas europeas en caracterización de catalizadores en condiciones reales de operación. Su investigación se enfoca en materiales como nanopartículas metálicas, óxidos metálicos y zeolitas, empleando técnicas como IR, XPS y Raman. Es autora de más de 40 publicaciones científicas y tres patentes en el campo de la química aplicada.

Invitada Escuela Iberoamericana de Espectroscopía XPS UIS

Dr. Jorge Noé Díaz de León Hernández (México), investigador del Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN) de la Universidad Nacional Autónoma de México (UNAM), con amplia trayectoria en el desarrollo de catalizadores para combustibles limpios. Ha colaborado con instituciones de alto prestigio como el CNRS de Francia.

Invitado internacional Escuela de Espectroscopía XPS UIS

Dra. Francesca Mirabella (Alemania), científica de aplicaciones en SPECS Surface Nano Analysis GmbH, especializada en XPS y NAP-XPS. Su experiencia incluye trabajos en el Instituto Fritz Haber y la Universidad Técnica de Viena, y ha sido galardonada con la Medalla Otto Hahn de la Sociedad Max Planck por sus contribuciones a la ciencia de superficies.

Estos tres referentes internacionales se suman a un destacado grupo de conferencistas que dictarán clases magistrales, liderarán sesiones prácticas y promoverán espacios de diálogo científico en torno a la espectroscopía XPS, apoyados por la infraestructura científica y tecnológica del SurfLab UIS, donde se encuentra la plataforma XPS/ISS/UPS-ACenteno, única en su tipo en Colombia.

La Escuela está dirigida a investigadores, profesionales y estudiantes de áreas como ciencia de materiales, nanotecnología, catálisis, energía y otros campos estratégicos que requieren técnicas de caracterización superficial de alta precisión.

Para más información e inscripciones: http://cicat.uis.edu.co/escuelaxps/index.php