Con el objetivo proporcionar a los participantes de los conocimientos necesarios sobre la caracterización estructural de materiales a través de técnicas de difracción de rayos X de muestras policristalinas, en la Universidad Industrial de Santander (UIS) el taller de capacitación titulado “Caracterización de materiales de interés industrial usando la base de datos Powder Diffraction File (PDF-5+)”.
Este evento se realiza como preámbulo de la II Escuela Internacional de Cristalografía: Difracción de Rayos X de Monocristal, que se llevará a cabo del 28 de octubre al 1 de noviembre de 2024.
El evento, organizado por el Laboratorio de Rayos X de la UIS, tiene un enfoque que es fundamental para la investigación y el desarrollo de nuevos materiales con aplicaciones en diversas industrias.
Entre los ponentes destacados se encuentran expertos de renombre en el campo de la cristalografía, como el doctor José Antonio Henao, de la UIS; la doctora Graciela Díaz de Delgado y el doctor Miguel Delgado, de la Universidad de Los Andes en Venezuela; el doctor Mario Alberto Macías, de UniAndes; Renato Figueira da Silva de Bruker y Luciano Santos, de Rigaku Americas Corporation.
Este evento promete ser una excelente oportunidad para aprender y compartir conocimientos sobre técnicas avanzadas de caracterización de materiales, contribuyendo al crecimiento académico y profesional en el área de la cristalografía.
Los interesados en obtener más información sobre el evento pueden hacerlo en el siguiente enlace: https://sites.google.com/view/ii-eeicr-bucarmanga-2024?usp=sharing.
