El ingeniero químico y magíster en Ingeniería Química de la Universidad Industrial de Santander (UIS), Jhonatan Rodríguez Pereira, regresó a su alma mater como uno de los invitados internacionales destacados del ‘Primer Curso Latinoamericano en Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos – X (XPS)’, espacio académico organizado por el Laboratorio Central de Ciencia de Superficies (SurfLab).
En esta oportunidad, participó como ponente principal encargado de instruir a los asistentes en el análisis y procesamiento de datos XPS. Actualmente, Jhonatan se desempeña como investigador y responsable del Laboratorio de Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X en el “Centro de Materiales y Nanotecnología – CEMNAT” de la Universidad de Pardubice, en la República Checa.
En años anteriores, Rodríguez estuvo vinculado al Centro de Investigación en Catálisis (CICAT) y al Laboratorio de Ciencia de Superficies de la UIS, como uno de los investigadores responsables de la plataforma XPS/ISS/UPS-ACenteno.
Según el investigador Rodríguez Pereira, “XPS es una poderosa técnica de caracterización de superficies; la primera parte de la materia sólida que tiene contacto con el ambiente que lo rodea es justamente la superficie y esta técnica nos permite conocer el estado químico superficial. Sin embargo, esto no es una tarea sencilla, requiere de un conocimiento profundo de la muestra y de la técnica para llevar a feliz término el análisis. En la comunidad científica se dice que XPS es una técnica subjetiva, no obstante, esa subjetividad se puede transformar en objetividad en la medida que quién realiza el análisis siga y aplique de manera correcta unas reglas establecidas para el análisis de datos enseñadas durante el presente curso”.
La participación del investigador Rodríguez Pereira en esta primera edición del curso fue posible gracias al apoyo de la Vicerrectoría de Investigación y Extensión de la Universidad, a través de su Programa de Movilidad.
El ‘Primer Curso Latinoamericano de Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos-X’, se consolida como un espacio académico para promover los fundamentos teóricos y aplicaciones de la espectroscopía fotoelectrónica de rayos-X (XPS) para el análisis de materiales sólidos de diversa naturaleza: metales, aleaciones, cerámicos, polímeros, entre otros.
Durante una semana, académicos e investigadores de México, Chile, Venezuela y Colombia, se dieron cita en las instalaciones del Parque Tecnológico Guatiguará de la sede UIS Guatiguará en Piedecuesta, para participar de una completa agenda que incluyó conferencias magistrales y una sesión práctica donde se ilustró sobre las metodologías empleadas durante el análisis de muestras con la plataforma XPS/ISS/UPS-ACenteno.
